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先鋒XRF-2020L測厚儀韓國膜厚儀

快速無損測量電鍍層厚度

X射線熒光測厚儀能提供：鍍層厚度測量功能,性能*,無損快速速測量。

測量鍍層厚度只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果

單層,多層,合金鍍層的厚度測量也一樣能勝任。

輕巧的全自動樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用

準確性高,廣泛應用五金電鍍,首飾,端子等行業。

XRF-2020L測厚儀或H型測厚儀功能特點：

基于X射線熒光技術，該技術已經被證實并且得到廣泛應用

可以在建立測量曲線的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。

元素范,圍包括從元素周期表中的Ti22到U92

并且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材！

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金，鉻，鋅鎳合金等。

2. 鍍層層數：可測5層。

3. 測量產品位置尺寸：標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)

4. 測量時間：通常15秒。

5. H型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。

6  L型號機箱容納樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。

7. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

8. 可測厚度范圍：通常0.01微米到60微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

產品參數：

X射線光管 鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏（1毫安）可根據軟件控制優化

探測器 高分辨氣體正比計數探測器

準直器 單一固定準直器直徑0.2mm(可選或訂制其他規格)

·全自樣品臺，自動雷射對焦

微先鋒XRF-2020電鍍層測厚儀

型號：XRF-2020L，XRF-2020H

快速無損測量鍍層厚度