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半導體芯片高低溫測試的優(yōu)勢性能
閱讀：351 發(fā)布時間：2020-8-19你知道半導體芯片高低溫測試有哪些優(yōu)勢嗎？
快速溫變試驗箱是在試驗室內(nèi)用人工方法模擬一種惡劣環(huán)境的試驗，是研制、開發(fā)新產(chǎn)品和檢驗產(chǎn)品質(zhì)量性能的環(huán)境試驗重要設備。檢測于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒條件下的適應性試驗。可用來測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)高溫、低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，適用于科研、學校、工廠等單位用于電工、電子產(chǎn)品、半導體、電子線路板、金屬材料、軸承等各種材料在溫度急劇變化環(huán)境下的適應性試驗。
優(yōu)勢：
1、儀表采用品牌屏幕畫面，熒幕操作簡單，程式編輯容易，無需按鍵輸入，屏幕直接觸摸選項。
2、采用自動化的控制系統(tǒng)。
3、風路循環(huán)出風回風設計，風壓、風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。
4、快速溫變試驗箱采用多翼式送風機送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
5、降溫、升溫、加濕系統(tǒng)*獨立可提率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。
6、資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機。
7、控制器操作界面設中英文可供選擇，實時運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。可在電腦上設計程式，監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關(guān)機等功能。具有自動演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為穩(wěn)定。
該試驗箱能夠滿足有關(guān)標準規(guī)定的加工生產(chǎn)要求，且使用、維修方便，使用壽命長、造型美觀大方，具有良好的用戶界面，讓用戶的操作和監(jiān)測更加簡單和直觀。適用于解決試樣的快速溫度變化問題的快速溫變（濕熱）試驗箱。