儀器特點(diǎn)：
? 采用高精度采樣芯片和校準(zhǔn)模型，配合的實(shí)時(shí)溫度補(bǔ)償技
術(shù)，可實(shí)現(xiàn)全量程測(cè)量，并可測(cè)量 20um 以下薄電
鍍層及氧化層厚度
? 采用的數(shù)據(jù)處理技術(shù)，降低電磁干擾及手持操作的影響
? 測(cè)頭磨損后，可與儀器主機(jī)重新匹配，有效延長(zhǎng)測(cè)頭使用壽命
? 可對(duì)厚度、時(shí)間等測(cè)量信息進(jìn)行完整存儲(chǔ)
? 可與 PC 機(jī)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸
? 支持實(shí)時(shí)在線測(cè)量，主機(jī)軟件可進(jìn)行升級(jí)
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