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日本三豐粗糙度儀 表面粗糙度測量功能
高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準定位下，完成間距參數的評價。
檢出器測力有4mN和0.75mN可選。輪廓測量功能
Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比。
表面粗糙度·輪廓測量儀SV-C3200/C4500
品牌
三豐
型號
SV-C3200/SV-C4500
高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。
X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準定位下，完成間距參數的評價。
檢出器測力有4mN和0.75mN可選。輪廓測量功能
Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比。