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貨物所在地：廣東深圳市
更新時間：2025-03-18 21:00:08
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HPS2661四探針電阻率測試儀，可根據(jù)不同材料特性需要，有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高等院校和科研單位對導體、半導體材料導電性能的測量。
性能特點
v 超大液晶人性化操作界面
v 多種測量參數(shù)可選
v 測量數(shù)據(jù)自動保持功能
v 超快測量并顯示讀數(shù)
v 量程有自動和手動雙模式
v 檔號顯示及檔計數(shù)功能
v 兼容多種材料測量
v 專業(yè)的通訊接口可以與PC進行數(shù)據(jù)通訊及對儀器的遠程控制??
應(yīng)用
硅類半導體材料
柔性材料導電薄膜、金屬鍍層、ITO膜或納米涂層
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