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分析X射線在無損檢驗技術廣泛應用的原因
X射線能在無損檢驗技術中得到廣泛應用的主要原因是：
X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據此來判斷材料內部缺陷情況的一種檢驗方法。
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質和在物質中具有衰減的特性，發現缺陷的一種無損檢測方法。
X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm。
X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響，可穿透物質，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光。
當X射線穿透物質時，由于射線與物質的相互作用，將產生一系列極為復雜的物理過程，其結果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強度相應減弱，這種現象稱之為射線的衰減。
X射線探傷的實質是根據被檢驗工件與其內部缺陷介質對射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件后強度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺陷投影所產生的潛影，經過暗室處理后獲得缺陷影像，再對照標準評定工件內部缺陷的性質和底片級別。
X射線膠片是一種片基兩面均涂有結合層、乳劑層和保護層的膠片。一般按照乳劑中銀鹽顆粒度由小到大的順序將膠片分為J1,J2,J3三種。
銀鹽粒度越小缺陷影像越真切，但感光速度變慢，曝光量會成倍增加。
因此，只有目的在于檢測細小裂紋等缺陷時才選用微粒或超微粒的膠片。一般要求的選用J3級膠片用于感光速度快，照相質量要求不高的情況。鍋爐壓力容器選擇J2膠片。