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高光譜成像儀應用于Micro-LED快速檢測
閱讀：1050 發布時間：2021-7-13
隨著消費電子技術和產品的發展，Micro-LED作為下一代可能的顯示器需要一種高速的檢測技術以滿足大批量生產制造的需求。高光譜成像技術恰好具有滿足這個需求的前景。
針對某個客戶提供的Micro-LED樣品和檢測要求，我公司的技術人員在之前的高光譜顯微成像系統的基礎上做了大量改進，在樣品測試中取得了良好的效果。
下圖是我們采用的檢測系統基本構成。
Micro-LED燈珠誘導發光影像及光譜
Micro-LED是在某個尺寸的晶圓上通過類似于光刻的技術手段制作出按規則排列的微型LED燈珠，最終成為Micro-LED顯示器。
我們改進的成像高光譜檢測系統可以清楚的觀察到燈珠之間的間隙，區分正負極，分辨出“盲珠”并且利用專有軟件判斷每個燈珠發光的波長準確性、發光顏色和亮度等。最終實現工業級的高速檢測。