DE-TS-T系列提籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于設(shè)備零部件、汽車配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)*的檢測設(shè)備，可用于測試材料或元器件在瞬間的高溫或極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選（溫度循環(huán)）、高/低溫環(huán)境適應(yīng)性和可靠性試驗(yàn)，對(duì)各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現(xiàn)早期故障、模擬實(shí)際溫度與快溫變環(huán)境和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。