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當前位置：> 供求商機> 6500-半導體SiC器件動態參數測試系統
1. 設備功能概述
a) 測試機具有高測試精度、高靈敏度、高可靠性、高安全性的特點，可實現SiC器件動態參數的精確測試。
b) 簡潔的人機交互界面（計算機）可以滿足測試人員對SiC器件測試條件的約束和測試完畢后相關參數的自動顯示。
c) 系統母線電壓閉環處理，自動調節為預期設定值。
d) 門極驅動電壓-10V～20V可調(正電壓與負電壓絕對值差值必須大于5V)。
e) 主控系統由開關速度更高的IC 器件構成，大大提升了對采樣的處理速度和測試精度。
f) 驅動信號采用光纖通訊，避免外來傳導或輻射干擾對測試精度的影響。
g) 系統配置DUT 測試保護罩，此保護罩的開合狀態與母線電壓進行互鎖，防止測試人員在母線帶電的情況下就對DUT進行操作的危險行為發生。
h) 配置系統急停按鈕，拍下此按鈕斷開系統主功率輸入并且母線放電；放電時間<1S。
i) 為了進一步減小母線回路寄生參數對測試結果的影響，功率回路特殊設計。
j) 負載接口預留阻性和感性接口，根據需要，客戶手動配置。
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