電阻率檢測儀利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，適用于斜置式四探針對于微區的測試。
適用范圍：
1.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜。
2.覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試。
3.EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜。
4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等。
注意事項：
1.儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規范操作。
2.儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經常拔下，避免灰塵進入航空插引起短接等現象。
3.輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量。
4.探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針。
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