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我司銷售的電子斑點模式干涉儀（ESPI）（HO-AE-ESP18）
閱讀：160 發布時間：2024-12-10電子斑點模式干涉儀（ESPI）是一種研究表面變形的非破壞性光學方法。它依賴于測試物體的漫反射光與參考光束之間的干涉。
這是一種干涉測量技術，因此我們可以測量平面內或平面外的亞微米級位移。通過 CCD 相機記錄變形前后的圖像，并使用圖像分析軟件進行分析。這些變化可借助所提供的軟件進行分析，以找出變形。
由于這種干涉儀對振動噪聲非常敏感，因此霍爾馬科的 ESPI 配備了一個振動隔離光學面包板。輸出功率為 5mW 的線性偏振 632.8nm He-Ne 激光器用作光源。分光器將激光束一分為二。透射光束通過空間濾波器組件均勻地照亮測試物體，而反射光束則作為參考光束落在 CCD 上。變焦鏡頭和 CCD 捕捉到被照射測試物體的圖像。
我們的 ESPI 系統允許用戶在同一系統中執行電子斑點剪切干涉測量，而無需干擾光學設置和對準。Holmarc 的相機應用軟件可幫助捕捉和分析圖像。
規格
激光器：He-Ne 5mW @ 632.8nm。
光束擴展器：帶針孔的 20 倍顯微鏡物鏡。
變焦鏡頭：尼康
攝像頭：1/2.5" 5 MPC MOS 彩色攝像頭
軟件 ： Holmarc 相機應用軟件和圖像分析軟件。
光學面包板：1200 毫米 x 900 毫米，帶隔振支架。