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半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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