首頁(yè)>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測(cè)試>>橢偏拉曼AFM
納米壓痕測(cè)試設(shè)備 參考價(jià)：面議
對(duì)小體積樣品材料力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行定量化測(cè)試的關(guān)鍵技術(shù)。
拉曼光譜分析 參考價(jià)：面議
拉曼光譜用來(lái)測(cè)試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強(qiáng)度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機(jī)械應(yīng)力，摻雜和...
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測(cè)樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測(cè)試，具備優(yōu)異測(cè)試穩(wěn)定性和可靠性。
反射譜成像技術(shù) 參考價(jià)：面議
iSR是一種微光斑測(cè)試技術(shù)，用于實(shí)時(shí)刻蝕和Halftone工藝中的厚度測(cè)試
光譜型橢偏儀 參考價(jià)：面議
光譜型橢偏儀是多功能薄模測(cè)試系統(tǒng)，適合各種薄材料的研究。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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