PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。

本套系統包括：單傾拉伸樣品桿、拉伸控制器、專用拉伸樣品載片。 應用方向：研究金屬材料、納米材料、薄膜等的力學變化機制。

透射電子顯微鏡原位加熱/電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

● 適用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射電鏡

● 兼容類型極靴

● 保證透射電鏡原有分辨率

● 拉伸位移：2 mm

● 拉伸速率：0.2 um-50 um/s

● 拉伸步長：小于100nm

• 部分國內用戶

  

  部分國外用戶