ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡 ZEM Ultra臺式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng)，不僅具有快速成像、全自動操作等特點，還具備出色的抗震...
美國ZYGO激光干涉儀 參考價：面議
美國ZYGO激光干涉儀ZYGO新一代激光干涉儀系列--VeriFire激光干涉儀，繼承了工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)GPI激光干涉儀系列的大部分優(yōu)點，融合了機械相移技術(shù)、革命性的數(shù)...
美國ZYGO 激光干涉儀 參考價：面議
美國ZYGO 激光干涉儀ZYGO新型Verifire HDX激光干涉儀是為超高精度的光學(xué)元件和系統(tǒng)設(shè)計和制造的，可以獲得元件表面的中頻特征信息。
美國ZYGO激光干涉儀 參考價：面議
美國ZYGO激光干涉儀DynaFiz 激光干涉儀:在空氣湍流和極*振動的環(huán)境下進行動態(tài)測量 ;DynaFiz 激光干涉儀優(yōu)化的光學(xué)系統(tǒng)提供了清晰可見的中間空間頻...
美國ZYGO激光干涉儀 參考價：面議
美國ZYGO激光干涉儀Verifire™ MST激光干涉儀可以進行三個甚至四個平行面的測量，不僅可以顯示所有的面，并且可以排除其他的面而單獨顯示你所...
永新NP-800M偏光顯微鏡 參考價：面議
永新NP-800M偏光顯微鏡專用消應(yīng)力物鏡提供高清晰，高反差的圖像。用于單偏光，正像鏡檢，錐光鏡檢等多種觀察。
永新NP900偏光顯微鏡 參考價：面議
永新NP900偏光顯微鏡是一款成像清晰度更高、對比度更強、使用效率更高的可定制型科研級偏光顯微鏡。其功能強大、使用舒適，是您科學(xué)研究及日常檢驗的可靠伙伴。
永新NX1000 系列工業(yè)檢測顯微鏡 參考價：面議
永新NX1000 系列工業(yè)檢測顯微鏡精確成像，色彩還原度高——采用NIS45無限遠光學(xué)系統(tǒng)，具有工作距離長，色差矯正能力強，成像銳利等優(yōu)秀的光學(xué)品質(zhì)。
永新NMM-820 系列金相顯微鏡 參考價：面議
永新NMM-820 系列金相顯微鏡研究用系統(tǒng)金相顯微鏡，涵蓋明場、暗場、偏光等觀察方式。反射、透反射兩種照明系統(tǒng)可選，配有大功率透反射式雙光路柯勒照明系統(tǒng)。適用...
永新JSZ8系列連續(xù)變倍體視顯微鏡 參考價：面議
永新JSZ8系列連續(xù)變倍體視顯微鏡同級別中*先的機型，變焦范圍0.6X-5X可進行廣范圍的觀察，視野寬廣，最大可達Φ76mm。高性能光學(xué)部件，可形成清晰...
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統(tǒng)，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體/微電子， 電子，機電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學(xué)研...
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統(tǒng)超低震動干式液氦光學(xué)低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導(dǎo)熱隔震，實現(xiàn)樣品臺納米級的機械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動影響，產(chǎn)品設(shè)計安裝在光學(xué)隔震平臺...
澤攸手動探針臺系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸手動探針臺系統(tǒng)，可定制手動探針臺系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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