探傷儀?OmniScan X3技術參數及應用

時間：2024-7-20閱讀：830

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探傷儀OmniScan X3技術參數及應用

OmniScanX3探傷儀

腐蝕檢測，簡便易行

利用相控陣技術進行腐蝕檢測具有很多優勢，其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。但是，熟練掌握相控陣技術具有一定的挑戰性。OmniScan X3探傷儀通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單提供高級功能，從而可使您簡單輕松地獲得準確的數據。

儀器所提供的高級工具，如：全聚焦方式（TFM）圖像，可用于檢測腐蝕或其他一些較難探測到的損壞現象，如：高溫氫致缺陷（HTHA）和氫致裂紋（HIC）

只需非常簡單的設置，就可以使用一個最多包含64個晶片的孔徑生成具有優質分辨率的全聚焦方式（TFM）圖像

任何水平的操作人員在使用儀器時都會感到得心應手

得益于簡化的菜單結構和設置向導，您可以更輕松地設置復雜的解決方案，如：與HydroFORM掃查器配套進行的檢測

腐蝕檢測，簡便易行

較大的文件容量可以實現更快的數據通量，并可進行不間斷的掃查

使用一個25 GB的大容量文件，可以掃查一個最大13米2的區域，還可以對大型管道進行完整的周向掃查。

檢測人員正在使用相控陣探傷儀進行腐蝕檢測

用于條件艱苦的環境

10.6英寸WXGA顯示屏上的圖像清晰可見

觸摸顯示屏反應靈敏，即使在帶著手套、粘有耦合劑，或者在雨中操作時，其靈敏度也不會降低

符合IP65評級標準，防塵防水

可在-10 °C到45 °C的溫度范圍內正常操作，而不會降低其符合IP65評級的水平

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