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TEM-STM樣品桿系列 參考價：面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產品將掃描探針控制單元...
原位加熱/電學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。
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