一次測(cè)量，主要有幾個(gè)關(guān)鍵因素決定:適當(dāng)?shù)奶筋^和探頭本身的質(zhì)量。菲希爾為您提供種類繁多而且品質(zhì)優(yōu)異的高精度探頭。鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據(jù)。鍍層的大致厚度、底材的材料、測(cè)量點(diǎn)的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時(shí)需要考慮的因素。
主要應(yīng)用：
1. 測(cè)量范圍從納米級(jí)到毫米級(jí)不等；
2. 磁性底材上的非鐵磁性涂鍍層；
3. 導(dǎo)電非鐵磁性底材上的非鐵磁性和非導(dǎo)電性涂鍍層；
4. 各種底材上的導(dǎo)電性涂鍍層；
5. 非鐵磁性導(dǎo)電底材上的鐵磁性涂鍍層；
6. 非鐵磁性材料的電導(dǎo)率測(cè)量、材料特性測(cè)試；
7. 如：微觀結(jié)構(gòu)以及由熱損傷或材料疲勞導(dǎo)致的材料性能轉(zhuǎn)變；
8. 奧氏體鋼和雙相鋼上的鐵素體和馬氏體含量測(cè)試。

FGAB1.3

菲希爾測(cè)厚儀探頭對(duì)測(cè)量的影響介紹

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