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當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>技術文章>>泰勒粗糙度儀DUO的信息
憑借智能一鍵觸發系統，SURTRONIC DUO 可在0.3 秒內同步采集 Ra（輪廓算術平均偏差）、Rz（輪廓最大高度）、Rt（輪廓總高度）、Rq（均方根偏差）、Rsk（偏度）、Rku（峰度）及 Rmr（材料比曲線）等 7 項核心粗糙度參數，相較傳統單參數測量設備效率提升62%。以汽車零部件制造場景為例，在活塞環表面檢測中，該設備不僅能精準量化微米級光潔度差異，還可通過 Rmr 參數解析表面材料分布特性，同步完成波紋度、微觀峰谷形態的綜合評估。配合內置的 ISO、ASME 等 15 種國際標準算法，測量數據可直接生成符合行業規范的質量報告，為生產工藝優化與質量管控提供全維度數據支撐。
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