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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116
泰勒霍普森粗糙度儀特點
任何表面，任何高度
包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件，以及孔深可達70mm的能力，在不需要昂貴的墊塊支架或工裝的情況下，對具挑戰(zhàn)性的測量位置進行檢測。防滑的V型腳架設計使得該系統(tǒng)能夠用在平滑或者彎曲的表面上。測針還能夠翻轉向上測量。
泰勒霍普森粗糙度儀輪廓圖
詳細的輪廓圖形能夠顯示測量區(qū)域，能夠幫助分辨出有問題的區(qū)域。
設置簡單
輕觸快捷鍵即可進行所有關鍵設置。
迷你USB 2.0
用于充電（任何標準USB充電器）或連接電腦傳輸數(shù)據(jù)。
A類型USB 2.0
可連接便攜式打印機或者USB儲存設備
方向切換
可將屏幕旋轉四個方向，非常適用于不順手的測量位置。
行業(yè)標準和可追溯性
所提供的標準能夠用于校正儀器和檢查測針磨損，以確保總能夠得到準確的測量
測量 | 測量能力 |
粗糙度標準(Ra) | ±(2% + 0.004 μm) |
工件或者元件表面(Ra) | 一次測量值±3% |
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