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菲希爾Fischer代理X熒光射線測厚儀

菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列簡介

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理為了使每次測量都能在條件下進行，XULM配備了可電動調整的多種準直器及基本濾片。

比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）

XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。

本款儀器特別適合用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有：

微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

印制線路板上手動測量

珠寶手表業中的鍍層厚度測量及成分分析

菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XULM系列設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列。根據使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同樣品平臺：

XULM：固定平面平臺

XULM XYm：手動X/Y平臺

高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。

盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。