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京都玉崎分享測量顯微鏡的使用
測量顯微鏡用于相對較小的機械零件、電子設備零件和半導體產品的生產和質量控制。該測量裝置適用于測量小零件和不使用顯微鏡放大難以測量的詳細零件。
除了測量尺寸外，它還可以用于使用偏振光和微分干涉進行觀察，例如檢測半導體基板上的劃痕。由于放大倍數的準確性，通過使用模板進行比較測量來確定產品是否在公差范圍內，對于簡單的檢查也很有用。
測量顯微鏡既可以用作測量裝置，也可以用作顯微鏡，并且一臺裝置可以用于多種用途。
測量顯微鏡是一種尺寸測量裝置，可根據使用顯微鏡放大和觀察的圖像來測量尺寸。
它結合了具有精確放大倍率的光學顯微鏡、用于比較測量的模板以及用于在平面上精確移動測量工件的XY 平臺。使用測量顯微鏡可以進行非接觸式測量，從而可以在不損壞工件的情況下觀察輪廓和表面。
測量顯微鏡通常使用遠心光學系統。近年來，一些型號在光學頭中采用了無限遠校正光學系統，可以進行微分干涉觀察和簡單的偏振觀察。
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