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京都玉崎分享什么是掃描探針顯微鏡 (SPM)？
掃描探針顯微鏡（SPM）是一種使用針尖探針觀察納米尺度表面不規(guī)則性的顯微鏡。
常在高真空下使用，以清潔樣品表面，但也可在空氣中使用。最近，還開發(fā)出了可用于液體的產(chǎn)品。
掃描探針顯微鏡有許多不同類型，包括掃描隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM）。 STM能夠捕獲單個(gè)原子，其發(fā)明者因?qū){米結(jié)構(gòu)科學(xué)技術(shù)進(jìn)步做出的巨大貢獻(xiàn)而榮獲1986年諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)。
掃描探針顯微鏡可以觀察納米量級(jí)的極精細(xì)表面，因此用于觀察半導(dǎo)體、玻璃、液晶等的表面狀況和測(cè)量粗糙度。
具體觀察對(duì)象包括硅單晶的原子排列和有機(jī)化合物的苯基。還可以觀察和操作微生物、細(xì)菌和生物膜等生物樣品的 DNA。
掃描探針顯微鏡是20世紀(jì)80年代開發(fā)的新型顯微鏡，但原子水平的觀察技術(shù)的發(fā)展已是令人矚目的，可以測(cè)量摩擦力、粘彈性和表面電位的模型也已開發(fā)出來，其應(yīng)用廣泛迅速擴(kuò)張。液體測(cè)量還應(yīng)用于電化學(xué)和生物化學(xué)等領(lǐng)域，使得測(cè)量更接近實(shí)際環(huán)境的條件成為可能。
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