2025東京工業展于7月9日-11日在日本幕張國際展覽中心盛大舉辦。作為亞洲制造業貿易展，本次展會由10個專業展組成，匯聚超過2000名參展商，重點展示制造業前沿技術，涵蓋機械零部件、工業自動化、增材制造（3D打印）、工廠設施設備及測量儀器等。吸引了數萬名專業觀眾，為全球制造業高層決策者交流合作提供了難得契機。

西凡儀器（展位號：41-16）攜旗艦款鍍層測厚儀PURERAY Supreme和多功能熒光光譜儀PURERAY Pro重磅亮相，涵蓋金屬材料分析、多層鍍層厚度和成分檢測、RoHS環保檢測等多個應用領域。

這兩臺光譜儀檢測精準度高，輕松分析微小結構區域，性能出色，吸引了多來自電子工業、電鍍加工、精密制造等行業的專業觀眾駐足參觀并深入交流。西凡團隊現場演示和技術答疑得到了眾多訪客的稱贊與認可，這也充分彰顯了西凡在工業材料分析領域的技術實力。

此次展會不僅進一步提升了西凡儀器在國際市場的品牌影響力，也為公司拓展日本及亞洲制造業客戶資源、尋找合作伙伴、推動全球布局奠定了堅實基礎。西凡儀器一直堅持核心技術自主創新，不斷加大研發投入力度，產品性能與服務不斷升級。現已成為海內外優秀XRF品牌，擁有成熟的全球銷售網絡，產品遠銷100多個國家及地區。

參展儀器

PURERAY Supreme鍍層測厚儀，采用Smart FP算法可精準檢測未知“盲樣"，同時分析鍍層厚度及成分，支持10層鍍層檢測。配備多準直器和XY微動平臺，輕松檢測小尺寸電子元件。適用于多種檢測場景，精準分析鍍層厚度及成分、液體離子濃度和RoHS有害物質。

PURERAY Pro多功能光譜儀，一機多用，滿足多種檢測需求，精準分析貴金屬成分、寶石成分、RoHS有害物質、首飾鍍層厚度及成分、礦石粉末和離子濃度。