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當前位置：天津盛升科學技術有限公司>>紫外可見近紅外光譜儀>> SS-TP760紫外可見近紅外光譜儀
| 應用領域 | 化工,建材/家具,電子/電池,汽車及零部件,綜合 |
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儀器介紹
紫外可見近紅外光譜儀可覆蓋紫外可見近紅外光譜范圍，其應用領域廣泛。SS-TP760是在本公司SS-TP720紫外可見近紅外分光光度計的基礎上針對大樣品研發的專用儀器。支持大樣品測量樣品尺寸：300*300*20mm。
SS-TP760 紫外可見近紅外光譜儀是采用內置直徑100mm的積分球測量樣品的透射和反射光譜數據。
儀器特點
1.采用經典的Czerny-Turner光學結構，精度高，光譜分辨率良好；
2.采用雙光柵、雙接收器的設計，保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區；
3.接收器件均為進口器件，保證了儀器的高性能和穩定度；
4.儀器的控制（如光柵轉換、濾光片轉換、接收器轉換、波長掃描等）全部由計算機控制，接口為 USB2.0。
5.儀器的連接簡單，極大的提高了通訊速率；
6.狹縫寬度4檔可選，分別是（1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm）。用戶可根據實際需要任意選擇；
7.全中文操作軟件，功能選擇簡單、易懂。
依據標準
《GB/T2680-94建筑玻璃 可見光透射比、太陽光直接透射比、太陽能總透射比、紫外線透射比及有關玻璃參數的測定》
《JGJ/T151-2008 建筑門窗玻璃幕墻熱工計算規程（現行）》
規格參數
光學結構 | C-T |
工作波長范圍 | 280nm-2500nm |
積分球 | 直徑100mm |
掃描方式 | 透過率、吸光度、反射率、能量 |
波長準確度 | ±0.5nm（UV/VIS）;±2nm（NIR） |
波長重復性 | 0.3nm(UV/VIS)； ±1nm（NIR） |
采樣間隔 | 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm |
光度范圍 | 0.300～2.5A |
光度準確度 | ±1%T（0-100）%T |
光度重復性 | 0.5%T |
基線平直度 | ±2%T（280-2500nm，預熱30分鐘后） |
光譜帶寬 | 1nm-5nm |
大樣品尺寸 | 300*300*20mm |
外形尺寸 | 810*800*380mm |
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