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當前位置：天津瑞利光電科技有限公司>> Sarspec光譜儀X-RES
| 供貨周期 | 現貨 | 應用領域 | 電子/電池,電氣 |
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產品名稱：Sarspec光譜儀X-RES
產品型號：X-RES 1
產品介紹
X-RES 是那些需要高分辨率性能的光譜儀的理想之選，它能夠解析準確度達 0.05 nm (FWHM) 的緊密排列光譜特征。X-RES 安裝在堅固緊湊的光學臺上，焦距為 100 mm，能夠在工作波長范圍內提供高的性能和靈敏度以及較大的峰值對稱性，這使得該系列光譜儀成為高分辨率應用的解決方案。
用戶可更換狹縫和光學濾光片、電源狀態指示器和觸發功能等功能可將此光譜儀集成到您的設置中。X-RES 提供即用型（適用于更常見的應用）和用戶自定義（適用于更具體的應用）配置，適用于窄 UV-Vis 和 Vis-NIR 范圍以及擴展的 UV-Vis-NIR 范圍。
性能特點
l 非常適合高分辨率應用
l 用戶可更換狹縫和光學濾光片
l 光學分辨率低至 0.05 nm (FWHM)
l 改進的光學設計 - 焦距為 100 mm
l 附帶 LightScan 軟件
選型指南
技術參數
產地：葡萄牙
操作范圍：185-1100 nm（分為 8 個操作范圍）
聚光透鏡：可選（包括在靈敏度提高的版本中）
光纖連接器：SMA 905
觸發器：輸入/輸出
狹縫尺寸：10 μm（可更換）
探測器：3648 元件Toshiba
集成時間：3ms-214s
軟件：LightScan（包含）
光柵：根據所選范圍
光學分辨率：0.05 至 0.1 nm
接口：Mini-USB
產品應用
X-RES 是一款具有高分辨率性能的光譜儀，能夠滿足您的高分辨率應用的所有要求。
用戶可更換的狹縫和光學濾光片功能允許您設置 X-RES 以進行更靈敏的測量。這種靈活性與改進的靈敏度相結合，使該系統成為那些高分辨率應用的解決方案，例如激光器和 LED 的波長特性、監測校準源的光譜發射線或確定元素原子發射線。
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