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當前位置：> 供求商機> 寫真化學光學干涉反射光譜涂層測厚儀
反射涂層厚度監測儀是一種光學干涉反射光譜涂層測厚儀，它使用微型反射探頭，可應用于從實驗室級別到生產過程中的在線檢查的所有情況。 它具有出色的可維護性，可用于集成到工藝設備和生產線管理應用中。
最多可同時測量 9 種類型的透明膜。
它具有出色的可維護性，可用作工藝設備或生產線管理應用的集成。
例如，在沉積、拋光和蝕刻過程中，它可以用作在線監視器或終點監視器（終點檢測傳感器），從而實現薄膜厚度的實時監控（實時監控）。
它還可用于評估多晶硅的結晶度和多孔薄膜的密度。
| 溫度 | ： 設定點在 18 ~ 45°C 范圍內 |
|---|---|
| 長期變化 | ： ±2.0°C/24 小時或更長時間（參考設定點） |
| 短期變化 | ： ±1.0°C/1 小時×1 周期（參考設定點） |
| 濕度 | ：45% ± 20%（無冷凝） |
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