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藍牙芯片溫度速變試驗箱TEC-225PF專為藍牙芯片測試而設計。

它能夠在短時間內實現大幅度且精準的溫度變化，滿足藍牙芯片在不同溫度條件下的性能檢測需求。采用控溫系統，確保溫度均勻穩定。內部空間合理，可放置多個樣品同時測試。

該試驗箱操作簡便，具備智能化監控和報警功能。堅固耐用的外殼，優質的保溫材料，有效節能且保證測試環境穩定。是保障藍牙芯片質量和可靠性的得力工具

藍牙芯片溫度速變試驗箱TEC-225PF

產品概述：
TEC-225PF 溫度速變試驗箱是專門為藍牙芯片的可靠性測試而設計的高精度設備。它能夠快速、準確地模擬各種惡劣溫度變化環境，以評估藍牙芯片在不同溫度條件下的性能和穩定性。

藍牙芯片溫度速變試驗箱TEC-225PF

主要特點：

快速溫度變化：具備出色的升降溫速率，可在短時間內實現大幅度的溫度切換，滿足藍牙芯片的嚴格測試要求。
精確溫度控制：采用溫控系統，溫度控制精度高達±0.5℃，確保測試結果的準確性和可靠性。
均勻的溫度分布：優化的風道設計和內部結構，使箱內各點的溫度均勻性良好，減少溫度差異對測試的影響。
大容量試驗空間：內部空間寬敞，可同時容納多個藍牙芯片進行測試，提高測試效率。
智能監控系統：配備智能化的監控和數據采集系統，實時記錄溫度變化曲線和測試數據，方便后續分析和評估。
安全保護機制：具有多重安全保護功能，如過溫保護、過載保護、漏電保護等，保障設備和測試樣品的安全。

藍牙芯片溫度速變試驗箱TEC-225PF

型號		TEB-225PF	TEB-408PF	TEB-600PF	TEB-800PF	TEB-1000PF
內容積（升）		225	408	600	800	1000
內箱尺寸W×D×H(mm)		500×600×750	600×800×850	800×800×900	1000×800×100	1000×1000×1000
外箱尺寸W×D×H(mm)		850×1500×2030	950×1700×2130	1150×1850×2180	1250×1750×2180	1250×1850×2180
性能	溫度范圍	-70℃ ～+ 150℃
	溫度波動度	±0.3℃（-20℃～+100℃）±0.5℃（+100.1～+150℃）
	溫度偏差	±1.0℃（-20～+100℃）±1.5℃（+100.1～+150℃) ±1.5℃(-20～+100℃) ±2.0℃(100～+150℃)
	升溫時間(平均/min)	非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）
	降溫時間(平均/min)	非線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃）
使用環境		溫度：+5℃～+35℃；濕度：≤90%RH；大氣壓力：86-106kPa
材料	外殼	材料為熱軋鋼板(表面噴涂處理)或者不銹鋼板SUS304
	內箱	不銹鋼板SUS304
	絕熱	硬質聚氨酯泡沫
調節器	加熱器	鎳鉻合金電加熱器
	制冷方式	機械壓縮單級/二元復疊制冷(水冷)
	制冷壓縮機	法國“泰康"全封閉壓縮機或德國“比澤爾"半封閉壓縮機
	制冷劑	R404a/R23
控制器	顯示器	彩色觸摸屏，液晶顯示器(LCD)
	運行方式	程序方式、定值方式
	設定方式	觸摸式(壓電)
	設定范圍	根據設備的工作溫度范圍調整(上限+5℃，下限-5℃)
	顯示分辨率	時間：0.1min；溫度：0.1℃；濕度：0.1%RH
	輸入	熱電阻
	控制方式	抗積分飽和PID；BTC配合調溫控制方式
電源		AC380(1±10%)V (50±0.5)Hz 三相四線+保護地線
標準配置		樣品架，引線孔硅膠塞3個，鋼化除霧玻璃3塊
安全裝置		漏電保護器，箱內超溫保護器，風機過熱保護，壓縮機超壓、過熱、過流保護，樣品超溫保護，干燒保護器，斷水繼電器，缺相及相序保護
1室溫+25℃和循環水溫+25℃、無試樣條件下測得的數據； 2以上是皓天設備標準型號產品，可根據客戶要求尺寸來訂制，滿足客戶的要求。

藍牙芯片溫度速變試驗箱TEC-225PF

應用領域：
廣泛應用于藍牙芯片的研發、生產、質量檢測等環節，幫助企業提升產品質量，縮短研發周期，降低生產成本。

售后服務：
提供專業的安裝調試、培訓指導和售后維修服務，確保用戶能夠順利使用設備并獲得及時的技術支持。

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