您好, 歡迎來到化工儀器網
| 應用領域 | 綜合 | 方阻 | ±0.15Ω |
|---|
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800Å（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準確度 厚度 ±(20Å+2%讀數)
產品簡介
詳細介紹
鋁膜測厚儀型號：BN/DT-LM
鋁膜測厚儀
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數重現性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數重現性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
可測量范圍與量程：被測薄膜尺寸 100mm±10%×200mm±10%
測量量程 厚度90～800?（0.009～0.08μm） 方阻95～0.47Ω/□
精que度： 測量準確度 厚度 ±(20?+2%讀數)
方阻 ±0.15Ω/□（在300～500?范圍）
讀數重現性 10? (同一測量點) 注：1微米＝1000納米＝10000埃
