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PL（光致發光）檢測
PL光致發光原理：利用特定波長的激光作為激發光源，提供一定能量的光子，硅片中的基態電子在吸收這些光子后進入激發態，釋放波峰在1150nm左右的近紅外光，
然后利用高光譜高分辨率的相機進行感光、成像。成像后光強與對應位置非平衡少數載流子濃度成正比，由于缺陷會導致該區域的少數載流子濃度減小從而削弱其熒光效應，
成像后則表現為暗色的點、線或一定區域，故可通過光致發光來判斷樣片是否存在缺陷，雜質等等最終影響電池效率。
檢測范圍：硅錠、硅片、工藝過程片、太陽能電池片、組件產品。
過程位置：在串焊、疊瓦之后或者組件成品之后。通常也會根據客戶的需求來搭配安裝，安裝在成品電池片出來后、或者串焊上料前。
同時可以安裝適應行業硅片、硅錠檢測。
優點：無接觸，不易產生二次缺陷；檢測效率高。
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