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COSMOS-1X型熒光X線鍍層測厚儀（膜厚計）
●Windows下中文操作界面 各機型規格參數： 機型 手動測量臺 測量主體 測量臺尺寸（mm） 170＊110 移動量 X（mm） 70 Y（mm） 70 Z（mm） 50 測定物zui大高度（mm） 45（可調整） 尺寸（mm） 362（W）＊425（D）＊486（H） 重量（kg） 44.2 樣品zui大何重（kg） 3 電源 AC100V±10V（option AC115V、AC230） 搭載MS-WINDOWS系統（*的操作性與高精度測定）與IBM PC個人電腦相容
●緊湊小巧，低成本
●解析度0.001μm
●zui小測量面積0.1mm?
●可測量合金層的厚度以及成分比例
●對于多層鍍層可測量每一層精確厚度
●可通過X線進行元素光譜分析
●適用對象：IC導線架、封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業
儀器特點：
準值器5種孔徑內藏式：
zui小的準值儀孔徑僅
標準：0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規格可供選購。
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
0.05＊0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
小型化設計：占體積小，采購成本低，適用于小型工件。
*的顯示功能：能顯示測量具體位置，可將照片打印輸出。
充實測量報告的作成功能：多種統計功能，輕松提供完善的測量報告。
自我診斷功能及X線管保養功能：讓您時刻了解儀器使用情況，方便保養維護。
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