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當前位置：> 供求商機> IM 4000Ⅱ 標準離子研磨儀
使用低能量Ar離子束，加工無應力損傷的樣品截面，為SEM觀察樣品的內部多層結構、結晶狀態、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法?；虺悠繁韺樱庸こ龅蛽p傷平面。
離子研磨儀標準機型能夠進行截面研磨和平面研磨。還可通過低溫控制及真空轉移等各種選配功能，針對不同樣品進行截面研磨。
┃ 設備特點
高效研磨
配備截面研磨能力達到500µm/h*1以上的高效率離子槍。即使是硬質材料，也可以高效地制備出截面樣品
截面研磨
即使是由不同硬度以及研磨速度材質所構成的復合材料，也可以制備出平滑的研磨面
優化加工條件，降低因離子束所致樣品的損傷
可裝載20mm(W)×12mm(D)×7mm(H)的樣品
平面研磨
直徑約為5mm范圍內的均勻加工
應用領域廣泛
可裝載直徑50mm×高度25mm的樣品
可選擇旋轉和擺動（±60度，±90度的擺動）2種加工方法
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