目錄:徠飛光電科技(深圳)有限公司>>波前分析設備>>波前分析儀>> 近紅外波前分析儀-SID4-SWIR
針對近紅外波段的波前分析，Phasics推出了兩款產品，SID4-SWIR和SID4-SWIR HR，兩款產品的靶面尺寸為9.6X7.68mm2，光譜范圍覆蓋900nm~1700nm，其中SWIR的采樣率為80X64，相位空間分辨率達到120um，HR作為高分辨率版本,可以采樣率為160 x 128，與SWIR采樣率提升一倍，空間分辨率也提升一倍；這個系列產品廣泛應用于光纖通信，夜視設備器件檢測、車載激光雷達等應用領域；
應用領域：光纖通信
有源器件
夜視鏡頭
車載雷達鏡頭
指標 | SID4-SWIR | SID4-SWIR HR |
波長范圍 | 400nm~1100nm | 400nm~1100nm |
靶面尺寸 | 9.60 x 7.68 mm2 | 9.60 x 7.68 mm2 |
相位空間分辨率 | 120um | 60um |
相位譜&光強譜采樣率 | 80 x 64 | 160 x 128 |
相位分辨率 | <2nm RMS | <2nm RMS |
精度 | 15nm RMS | 15nm RMS |
采樣頻率 | 30fps | 30fps |
實時相位輸出頻率 | 7fps（全分辨率） | 7fps（全分辨率） |
通信接口 | Giga Ethernet | Giga Ethernet |
尺寸 | 100 x 55 x 63 mm3 | 100 x 55 x 63 mm3 |
重量 | 約500g | 約500g |
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