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SWT-9000N-TEITSU帝通電子研究所 膜厚計
SWT-9000N-TEITSU帝通電子研究所 膜厚計
測量范圍 | 0 ~ 2.00毫米 |
表示分辨率 | 1μm:0~999μm 切換0.1μm:0 ~ 400μm 0.5μmμm:400~500μm 0.01毫米:1.00?2.00毫米 |
測量精度 | 均勻方面對 0 ~ 100μm:±1μm或指示值的±2 % 101μm?2.00毫米:±2%以內 |
表示方式 | 數字顯示LCD |
內存 | 標準曲線×1 |
探針 | 一點恒壓接觸式,V切割付,φ13×47mm |
電源 | 單3電池(1.5 V)×2自動パワーオフ |
使用溫度 | 0~40℃(不得結露) |
尺寸重量 | 72(W)×30(H)×156(D)毫米,約270克 |
附件 | 標準厚板,測試用零板、收納盒 |
高斯摩(成都)國際貿易有限公司 - 主營產品: 主要經營光學設備、電子計測、科學儀器、機械加工設備、環境試驗 ...
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