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  • Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置

    Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝...

    型號: Otsuka大塚 ... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:49:01 對比
    LCF seriesOtsuka大塚彩色濾光片測量裝置彩色光刻膠測量裝置測量精度高
  • Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置

    Otsuka大塚彩色濾光片測量裝置 產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的...

    型號: Otsuka大塚L... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:43:20 對比
    LCF seriesOtsuka大塚彩色濾光片測量裝置彩色光刻膠測量裝置測量精度高
  • Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置 測量精度高

    Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置 測量精度高產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的...

    型號: Otsuka大塚 ... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:36:38 對比
    測量精度高Otsuka大塚LCF series彩色光刻膠測量裝置高精度
  • Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置精度高

    Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置精度高產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢...

    型號: Otsuka大塚L... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:31:39 對比
    彩色光刻膠測量裝置Otsuka大塚LCF series精度高彩色濾光片
  • Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置高精度

    Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置高精度產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢...

    型號: Otsuka大塚L... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:27:05 對比
    Otsuka大塚LCF series彩色光刻膠測量裝置彩色濾光片測量精度高
  • Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置

    Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝...

    型號: Otsuka大塚 ... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:22:41 對比
    Otsuka大塚LCF series彩色光刻膠測量裝置彩色濾光片測量精度高
  • Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置

    Otsuka大塚彩色光刻膠測量裝置 產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表,通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的...

    型號: Otsuka大塚L... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:17:35 對比
    LCF seriesOtsuka大塚彩色光刻膠測量裝置測量精度高彩色濾光片
  • Otsuka大塚 ZETA電位·粒徑·分子量測試系統

    Otsuka大塚 ZETA電位·粒徑·分子量測試系統ELSZ series的高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta ...

    型號: Otsuka大塚E... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:12:27 對比
    ELSZneoOtsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測試系統高級機型高質量
  • Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測試系統

    Otsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測試系統ELSZ series的高級機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位(Zeta P...

    型號: Otsuka大塚E... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/13 10:03:27 對比
    ELSZneoOtsuka大塚ZETA電位·粒徑·分子量測試系統高級機型高精度
  • 日本SSD西西蒂電源保護裝置

    日本SSD西西蒂電源保護裝置SAT 系列是一種帶有符合 PL 方法的安全裝置的電壓施加靜電消除裝置,由靜電消除電極、高壓電源、連接它們的高壓電纜和高壓分支箱組成

    型號: SAT-11 所在地:蘇州市參考價: ¥3000更新時間:2025/6/12 18:43:00 對比
    日本SSD西西蒂SAT-11電源保護裝置
  • 日本SSD西西蒂 寬幅空氣離子發生器

    日本SSD西西蒂BF-X4DD 寬幅空氣離子發生器是一種薄型、輕便型直流電暈放電風扇型靜電消除器,可產生大量正負離子,并能夠在大范圍內高速消除靜電。

    型號: BF-X4DD 系... 所在地:蘇州市參考價: ¥1900更新時間:2025/6/12 18:39:38 對比
    日本SSD西西蒂離子風機BF-X4DD 系列
  • 日本SSD西西蒂薄型離子風機

    日本SSD西西蒂薄型離子風機BF-XDD系列Winstat BF-XDD 型號是一款緊湊輕便的直流電暈放電風扇型電離器,可產生大量正負離子,可實現高速靜電消除性...

    型號: BF-SZAⅡ 所在地:蘇州市參考價: ¥2500更新時間:2025/6/12 18:35:56 對比
    日本SSD西西蒂BF-SZAⅡ薄型離子風機
  • 日本SSD西西蒂蒂送風型除電裝置

    日本SSD西西蒂蒂送風型除電裝置這是一款采用高頻電暈放電方式的薄型、輕便型靜電消除器。它監控放電針的污垢和磨損,并通過 LED 顯示屏和輸出信號通知您。

    型號: BF-SZAII 所在地:蘇州市參考價: ¥5000更新時間:2025/6/12 18:31:57 對比
    日本SSD西西蒂BF-SZAII除電裝置
  • 日本SSD西西蒂BF-X2ZB-V2通風型靜電消除器

    日本SSD西西蒂BF-X2ZB-V2通風型靜電消除器自1938年公司成立以來,日本SSD西西蒂便已開始開發除靜電設備,是日本最先開始設計并生產除靜電設備的專業制...

    型號: BF-X2ZB-V... 所在地:蘇州市參考價: ¥3800更新時間:2025/6/12 18:29:01 對比
    日本SSD西西蒂BF-X2ZB-V2 系列薄型離子風機
  • Otsuka大塚液晶層間隙量測設備

    Otsuka大塚液晶層間隙量測設備產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全...

    型號: Otsuka大塚R... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/12 17:34:27 對比
    Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測設備多通道分光檢出器偏光光學系
  • Otsuka大塚 液晶層間隙量測設備

    Otsuka大塚 液晶層間隙量測設備產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安...

    型號: Otsuka大塚R... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/12 17:14:10 對比
    RETS seriesOtsuka大塚液晶層間隙量測設備偏光光學系多通道分光檢出器
  • 日本SSD西西蒂離子風機

    日本SSD西西蒂離子風機BF-X12MA寬型負離子空氣機輕薄,靜電消除范圍廣,采用本公司專有的 HDC-AC 型負離子空氣機。

    型號: BF-X12MA 所在地:蘇州市參考價: ¥1800更新時間:2025/6/12 17:09:53 對比
    日本SSD西西蒂BF-X12MA離子風機
  • Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀易使用

    Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀易使用即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環境中) 產品特色 非接觸式、非破壞...

    型號: Otsuka大塚S... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/12 15:09:34 對比
    SF-3Otsuka大塚易使用分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測
  • Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小

    Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀 體積小即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環境中) 產品特色 非接觸式、非...

    型號: Otsuka大塚S... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/12 15:03:00 對比
    體積小Otsuka大塚SF-3分光干涉式晶圓膜厚儀高度檢測
  • Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀

    Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環境中) 產品特色 非接觸式、非破壞性光...

    型號: Otsuka大塚S... 所在地:蘇州市參考價: ¥100000更新時間:2025/6/12 14:24:33 對比
    SF-3Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀非接觸式體積小

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