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Hatachi日立XE-NSOM近場掃描光學顯微鏡

XE-NSOM –用于各種光學應用的完備的AFM 系統

XE-NSOM是Park Systems專為高級光學研究而精心設計的一款專業產品，該儀器具備近場掃描光學顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光譜儀 (Raman Spectrometry)和共聚焦顯微鏡（Confocal Microscopy）功能。XE-NSOM 為此類光學實驗提供了一整套性能可靠功能齊全的研究檢測系統。

技術參數(機械部分)：

1. XY掃描器：100μm×100μm（閉環）
2. Z掃描器：12μm (可選配25μm)
3. 水平度：100μm線掃描垂直偏差不超過2nm
4. 樣品臺移動范圍：4mm（X/Y），27.5mm (Z)
5. 成像方法： AFM, NSOM
6. 光學觀察：垂直光路設計，可直接觀察微懸臂和樣品

技術參數(NSOM部分)：

1. NSOM激光光譜：400~900nm
2. 可根據透射或反射NSOM測量要求選用有孔或無孔微探針
3. 光子檢測：APD 或PMT

技術參數(電子部分)

1. 微處理器：600MHz，4800MIPS DSP
2. 模數/數模：16位，500kHz采樣頻率
3. 圖像采集：同步自動采集16幅圖像，分辨率高達4096×4096像素
4. 通訊方式：采用基于TCP/IP協議的通訊方式與計算機聯接
5. 符合CE認證標準

主要特點：

專業NSOM和Raman-AFM測量系統
一、 原子力顯微鏡和光學測量的*結合
二、 科學的光學設計提供了更寬的觀測角度
三、 多功能的平臺可滿足反射和透射測量要求
四、 適宜光子檢測的便捷式光軸調節系統
五、 便于產品升級的模塊化設計思想