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北京來(lái)亨科學(xué)儀器有限公司
4008-010-685
首頁(yè) >> 技術(shù)文章 >> 原子力顯微鏡AFM工作原理
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分析原理:將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定,另一端有一微小的針尖,由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的作用力,通過(guò)在掃描時(shí)控制這種力的恒定,帶有針尖的微懸臂將在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。從而可以獲得樣品表面形貌的信息
譜圖的表示方法:微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化
提供的信息:樣品表面形貌的信息
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