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混凝土電阻率測試儀以達到高精度測試微區的目標
閱讀：2121 發布時間：2015-10-27
混凝土電阻率測試儀不僅從測量系統的本身具有使測試誤差達到zui小化的結構保證，而且可以借助于圖像識別和伺服電機控制每個探針的調整（在調整時，需要利用控制 垂直運動的伺服電機，先抬起探針，調整之后再通過軟著陸的方式放下探針），保證探針測試位置的準確；另外通過控制縱橫向伺服電機實現平臺的縱橫向移動，使 硅片位置調整自動化，并且能夠做到嚴格控制步進的距離，混凝土電阻率測試儀可以實現zui小步距0.25μm，這樣就可以很方便地進行大樣片的檢測，以達到高精度測試微區的目標，并且可以極大地提高測試速度。
混凝土電阻率測試儀根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。混凝土電阻率測試儀換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
混凝土電阻率測試儀采用四探針測試技術方法分為直線四探針法和方形四探針法。方形四探針法又分為豎直四探針法和斜置四探針法。方形四探針法具有測量較小微區的優點，可以測試樣品 的不均勻性，微區及微樣品薄層電阻的測量多采用此方法。四探針法按發明人又分為Perloff法、Rymaszewski法、范德堡法、改進的范德堡法 等。值得提出的是每種方法都對被測樣品的厚度和大小有一定的要求，當不滿足條件時，必須考慮邊緣效應和厚度效應的修正問題。混凝土電阻率測試儀具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
混凝土電阻率測試儀利用Rymaszewski法方形四探針測試原理研制出檢測硅芯片薄層電阻的方形四探針測試儀。該儀器利用斜置的探針，通過攝像頭，借助于計算機顯示器觀察探針測試位置，用伺服電機控制樣品平臺和探針的移動，實現自動調整與測試硅芯片的電阻率均勻性。
混凝土電阻率測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。主機主要由數控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，自動轉換量程。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。混凝土電阻率測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！