HORIBA納米粒度儀的不同之處

來源：HORIBA（中國） 2017年03月17日 17:13

　　納米粒度儀是 HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置，可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質結構。該儀器被廣泛應用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測。

　　高靈敏度、高精度的測量

　　表征單一體系納米尺度粒子

　　*解析納米粒子的物質結構

　　納米粒度儀應用范圍

　　● 陶瓷粒子　● 金屬納米粒子　● 碳黑　● 制藥　● 病毒　● 涂料

　　● 化妝品　　● 聚合物　　　 ● 食品　● ＣＭＰ● 顏料、油墨

　　納米粒度儀技術參數：

　　粒子直徑測定

　　● 超寬動態光散射測量范圍:　0.3nm～8000nm

　　●通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器，實現高性能化。

　　●在單一納米粒子光學系統中，采用更低雜散光90°檢測光學系統。

　　●雙光路系統（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。

　　Zeta電位測定

　　●通過安裝HORIBA自主研發的標準微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。

　　納米粒度儀主要特點：

　　●超小體積設計

　　● 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。

　　●樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定。

　　●HORIBA自主研發的微量電泳樣品池，可以測定僅100μL的Zeta電位。

　　●廣泛應用于膠質粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定。

　　●操作簡單，進樣、設定參數后，只要按開始按鈕即可得到測量結果。

相關產品

凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。

聯系我們