在焊接件超聲波檢測工作中，選擇合適的探頭是發(fā)現缺陷、并對缺陷定位和定量的關鍵。因此在進行超聲波檢驗之前，一定要對檢驗對像有一個充分的了解，對可能產生的缺陷有一定的認識，從而根據這些情況來選擇探頭。

一、頻率的選擇

頻率的大小主要影響探頭近場區(qū)的長度和半擴散角的大小，頻率高，波長短，聲束窄、擴散角小，能量集中，聲束指向性好，因為波長短，對發(fā)現細小缺陷的能力強，分辨力高，缺陷定位準確。但是頻率高，聲波在材料中的衰減大，穿透能力差，頻率高，近場區(qū)較大，對薄板工件發(fā)現近表面缺陷能力減弱，在選擇探頭頻率時要綜合考慮。對厚板對接焊縫應盡量選擇頻率小一些，一般取2MHz左右；特別是鑄件和奧氏體不銹鋼件，衰減大，頻率一般選0.5—1MH，對中等厚度板對接焊縫可選擇頻率較大一些的探頭一般選擇2.5MHz的探頭，薄板大頻率可選擇5MHz。

二、晶片尺寸的選擇

晶片尺寸的大小決定了超聲波的發(fā)射功率，晶片尺寸越大，發(fā)射功率越大，晶片尺寸大，半擴散角小，聲束指向性好，信噪比優(yōu)于小晶片探頭，未擴散區(qū)增大，相對掃查的厚度范圍較大，對厚板應盡量選擇晶片尺寸大一些的探頭，晶片尺寸大，相對掃查寬度大，能夠提高工作效率。晶片尺寸大，近場較大，對于容器筒體或接管表面為曲面時為保證耦合，探頭晶片不宜過大。對于奧氏體不銹鋼焊縫，為了減少晶粒散射的面積，應當選用大晶片探頭。晶片尺寸大對于薄板材料來說近場大，對探傷不利，在保證強度足夠的前提下盡量選擇晶片尺寸小一些的探頭。方形晶片相對長方形晶片發(fā)射能量集中，在選擇晶片時，應優(yōu)先選擇方形晶片。

三、K值的選擇

K值對探傷靈敏度、聲束軸線的方向，一次波的聲程有較大的影響，對于有機玻璃制成的斜楔，在K=0.84時，聲壓往復透射率高，K值越大，折射角大，一次波的聲程大，當檢測厚壁工件時，應選用較小的K值，薄壁工件時，應選擇較大K值，焊縫檢測過程中應保證主聲束能夠掃查整個焊縫截面。應盡量使聲束垂直于可能產生的主要缺陷，對于焊縫根部的未焊透缺陷，要考慮端角反射問題，使用K=0.7—1.5左右的探頭，超過這個范圍的K值端角反射率低。在選擇K值的過程中要根據檢測質量的要求、板材厚度，檢查的主要缺陷等情況綜合考慮合理選擇，如一種K值的探頭不能夠滿足檢測要求，要同時選擇不同K值的探頭來滿足質量要求。

四、探頭前沿的選擇

橫波斜探頭一般由壓電晶片，吸聲材料，斜楔，阻尼塊，電纜線和外殼基本組成。壓電晶片的振動包括厚度方向的振動和徑向振動，其中厚度方向的振動是對我們有利的，而徑向振動是我們要消除的。一般通過斜楔前端做成牛角形外加吸聲材料來消除，這些也只能減少徑向振動，不能夠*的消除，仍有部分徑向波會傳導到工件上，對主聲束的傳播產生一定的干涉。因此，在選擇探頭的過程中，在滿足一次波和二次波能夠掃查焊縫整個區(qū)域的前提下，前沿可以選擇大一點，對于薄板，為了保證聲束能夠掃查整個焊縫載面，應選擇前沿相對較小一些，特別是對于薄壁管道的檢測，要求盡量前沿短一些。