X射線顯微鏡是對(duì)樣品進(jìn)行高分辨率成像的有用工具,但其中涉及的輻射會(huì)損害敏感樣品,如病毒、細(xì)菌和一些細(xì)胞。降低輻射劑量是解決這一問(wèn)題的一種方法,但不幸的是,這也降低了圖像的分辨率。
X射線顯微鏡憑借其突破性技術(shù)和高分辨率探測(cè)器,將3DX射線顯微鏡(XRM)的性能提升至新的高度,為各種尺寸的樣品提供亞微米級(jí)成像解決方案。保持先進(jìn)的大樣品高分辨率技術(shù)優(yōu)勢(shì)的同時(shí),該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)高達(dá)500nm空間分辨率。該產(chǎn)品通過(guò)使用更高分辨率的光學(xué)元件,實(shí)現(xiàn)分辨率的改善和突破。與此同時(shí),該產(chǎn)品還加入了更多的智能的元素,并且具有更廣闊的拓展能力。
X射線顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 材料科學(xué),如三維無(wú)損分析
2. 生命科學(xué),如微觀結(jié)構(gòu)成像
3. 地球科學(xué),如地質(zhì)、油氣三維成像
4. 半導(dǎo)體行業(yè),如電子封裝失效分析
5. 支持原位實(shí)驗(yàn)條件下的三維成像
X射線顯微鏡是一種非侵入性和非破壞性成像技術(shù),在不破壞樣品的情況下,利用X射線對(duì)樣品進(jìn)行掃描,能夠獲得掃描樣品的一個(gè)三維圖像,獲取內(nèi)部詳盡的三維結(jié)構(gòu)信息。在地學(xué)領(lǐng)域,在對(duì)表征和定量分析巖石孔隙結(jié)構(gòu)、測(cè)量滲流、研 究?jī)?chǔ)碳過(guò)程、分析尾礦、大化開(kāi)采效率、巖性礦物相分析方面具有其它設(shè)備無(wú)法替代的優(yōu)勢(shì);對(duì)珍貴的實(shí)體化石以及其他巖石樣品的三維無(wú)損成像,在不破壞標(biāo)本的前提下,全面同時(shí)獲取化石或樣品的外觀形態(tài)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息,并且可以實(shí)現(xiàn)化石形態(tài)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)的三維可視化,幾乎可以用于所有門(mén)類(lèi)古生物學(xué)的研究。此外,在生命科學(xué)、油氣地質(zhì)學(xué)、沉積學(xué)、考古學(xué)、材料科學(xué)和電子學(xué)領(lǐng)域也廣泛應(yīng)用。
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