實驗用光學鍍膜厚度檢測設備介紹
F3-CS 是測量小樣品的最佳測量系統。與測量臺集成的測量系統使其易于攜帶。
只需將樣品的測量面朝下放在載物臺上即可進行測量,大約1秒即可測量膜厚和折射率。
主要特點
緊湊的尺寸
輕松連接,僅 USB 連接
光學常數分析(折射率/消光系數)
主要用途
光學鍍膜 | 硬涂層、防滴膜等 |
---|---|
平板 | 有機膜等 |
產品陣容
模型 | F3-CS-UV | F3-CS | F3-CS-近紅外 |
---|---|---|---|
測量波長范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm |
膜厚測量范圍 | 3nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 250μm |
準確性* | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | |
1納米 | 2納米 | 3納米 |
*取決于樣品和測量條件
測量示例
可以測量從半導體等精密加工產品到眼鏡和汽車零件的各種樣品的膜厚。
多晶硅薄膜的膜厚和折射率分析
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。