HORIBA | 貼息貸款儀器 | 納米粒度及Zeta電位分析儀

來源：HORIBA（中國） 2022年11月23日 09:08

產品名稱：納米粒度及Zeta電位分析儀

產地：日本

型號：SZ-100V2

典型用戶：天津醫藥科學研究所

01 儀器用途及應用范圍：

SZ-100V2擁有兩個角度檢測器，可測量不同濃度樣品( 高濃度、稀釋樣品、有色樣品)專利Zeta 電位樣品池設計，電極間距小，石墨涂層，可減小所加電壓、最小化水的電解效應，延長樣品池壽命。

生命科學

蛋白質團聚的粒徑檢測

脂質體、病毒粒徑測量

蛋白質的Zeta 電位、等電點測量

半導體材料

CMP 拋光液粒徑分析

CMP 拋光液在線粒徑分布監控

CMP 研磨液Zeta 電位分析

硅片切削液粒徑分布分析

02 產品特點

粒徑測量原理：動態光散射法（光子相關光譜法）

粒徑測定范圍：0.3 nm ～ 10 μm

Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法

Zeta 電位測量范圍：-500 mV ~ +500 mV

分子量測量原理：Debye plot

分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da

測量角度：90° 、173°和17°

樣品量：12 μL ～ 1000 μL

03 索取樣本、聯系報價

如果您想了解更多關于產品儀器信息、索要儀器報價，歡迎掃描二維碼留言，我們的工程師將會及時與您取得聯系。

相關產品

凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。

聯系我們