定義

PCB表面處理技術(shù)是指在PCB元器件和電氣連接點(diǎn)上人工形成一層與基體的機(jī)械、物理和化學(xué)性能不同的表層的工藝方法。其目的是保證PCB良好的可焊性和電氣性能。

應(yīng)用背景

隨著科技的不斷進(jìn)步，市場(chǎng)對(duì)通信設(shè)備、電子可穿戴設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)的需求，加之汽車和其他行業(yè)對(duì)電子產(chǎn)品的日益依賴，正推動(dòng)線路板市場(chǎng)的快速增長(zhǎng)，

對(duì)內(nèi)在的PCB的質(zhì)量控制也越來越嚴(yán)格，進(jìn)而對(duì)PCB表面處理技術(shù)發(fā)展和升級(jí)也越來越緊迫。

PCB表面處理分類

有機(jī)防氧化（OSP）

熱風(fēng)整平

沉金

沉銀

沉錫

鎳金

噴錫

PCB混合表面處理技術(shù)

XRF在PCB檢測(cè)中的應(yīng)用

鍍層的厚度是在PCB產(chǎn)品品質(zhì)的最重要保證因素。常用的鍍層厚度測(cè)量方法包括破壞性和非破壞性兩大類。破壞性測(cè)厚法包括陽極溶解庫(kù)侖法、金相法、溶解稱重法、液流法、點(diǎn)滴法等;非破壞性測(cè)厚法包括機(jī)械量具法、磁性法、渦流法、XRF分析法等。其中，XRF分析法是因其非破壞性、快速性和直接性等特點(diǎn)，是鍍層厚度測(cè)量領(lǐng)域中最常見和受歡迎的方法之一。

產(chǎn)品應(yīng)用

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

針對(duì)PCB表面處理的過程控制、產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)中的檢測(cè)和篩檢難題，浪聲科學(xué)為您提供高效的、智能的XRF分析儀器。

曉INSIGHT 鍍層分析儀是一款上照式鍍層分析儀，具有高靈敏度、非破壞性、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試精度高、外觀緊湊、節(jié)約空間等特點(diǎn)，不僅可用于對(duì)不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品進(jìn)行元素分析，還能用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量，廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和生產(chǎn)工藝控制環(huán)節(jié)，以幫客戶降低物料成本，滿足IPC-4552B、IPC-4556、IPC-4554、IPC-4553A等工業(yè)規(guī)格要求。

產(chǎn)品原理

曉INSIGHT 鍍層分析儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號(hào)，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評(píng)價(jià)樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號(hào)，得出樣品的成分信息。它可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測(cè)量和精準(zhǔn)分析，是對(duì)不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法。

曉INSIGHT的優(yōu)點(diǎn)

浪聲曉INSIGHT鍍層分析儀為確保分析靈敏度和速度，為用戶提供了靈活多變的準(zhǔn)直器選擇，此外還配備了超大測(cè)量室、可編程自動(dòng)位移樣品臺(tái)、以及高性能探測(cè)器等硬件。

1、超大測(cè)量室

儀器殼體的開槽設(shè)計(jì)（C型槽）使得測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，可以測(cè)量如印刷線路板類大而平整的物品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。

2、可編程自動(dòng)位移樣品臺(tái)

INSIGHT可選配固定或電動(dòng)型自動(dòng)平臺(tái)，并且可編程以適應(yīng)廣泛的零件尺寸和測(cè)試量。固定樣品臺(tái)足以對(duì)易于定位檢測(cè)面積的電路板上一個(gè)或幾個(gè)位置進(jìn)行點(diǎn)檢。用戶可以使用固定樣品臺(tái)手動(dòng)定位樣品，但是對(duì)于具有復(fù)雜設(shè)計(jì)和極小特征的電路板，在電動(dòng)樣品臺(tái)上的處理效果會(huì)更好，這種樣品臺(tái)可提供更好的精確度來進(jìn)行微調(diào)。此外，INSIGHT還允許創(chuàng)建、保存和調(diào)用多點(diǎn)程序，以便對(duì)多個(gè)部件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試。可編程 XY 載物臺(tái)與內(nèi)置模式識(shí)別軟件相結(jié)合，使大容量樣品測(cè)試既高效又一致。

3、先進(jìn)的高性能進(jìn)口探測(cè)器

INSIGHT選用適合于多元素鍍層的高靈敏度大面積SDD探測(cè)器，SDD 提供更佳分辨率、低噪聲水平（最高 S/N 比）、長(zhǎng)期穩(wěn)定性和最短測(cè)試時(shí)間。他們還可以直接測(cè)量化學(xué)鍍鎳沉積物中的%P，結(jié)合 INSIGHT 高度可靠的微聚焦 X 射線管，這種硬件組合是每個(gè)INSIGHT的核心。

檢測(cè)案例