什么是AFM探針？

AFM探針，是在掃描隧道顯微鏡探針基礎上發明的一種新的原子級高分辨率儀器，可在大氣、液體環境中檢測納米區材料及樣品的物理特性，也可直接進行納米操作。

1985年，來自IBM的Binning和Stanford大學的Quate開發出了AFM探頭，以彌補STM的不足，使之能夠對任何樣品(不論是否導電)表面進行測量。AFM探頭是利用一端帶有一小點針頭和一根針尖的微懸臂來取代STM隧道針尖，它是通過檢測針尖和試樣間的作用力來獲得表面成像。

AFM探針原理是什么？

利用微細探針對試樣的表面進行“摸索”以獲取信息，原理更為簡單。在靠近試樣的位置上，針尖受力的影響，使懸臂產生彎曲或振幅變化。在測量系統檢測到的懸臂改變之后，將其轉化為電信號傳給反饋系統和成像系統，在掃描過程中記錄一系列探針變化，即可得到樣品表面信息圖像

AFM探頭的開發基于STM探頭。其區別在于，它沒有利用電子隧道效應，而是利用原子間的范德華力作用，呈現樣品的表面性質。假定兩個原子分別位于懸臂處的探針和樣品表面，兩者間的力隨著距離的變化而變化。

在離原子很近的地方，電子云斥力的相互影響比原子核和電子云之間的引力大，因此，整個合力就會顯示出斥力，相反地，如果兩原子分開有一段距離，其電子云斥力的作用小于彼此原子核和電子云之間的吸引力，因此，整個合力作用表現為重力效應。橘河科技小編告訴大家，AFM探頭利用了原子間的細微關系，將原子形貌表現出來。