波長X熒光硫含量分析儀校正曲線出現彎曲現象的原因分析

來源：北京菲斯泰克科技有限公司 2022年12月25日 21:58

　　波長X熒光硫含量分析儀是現代化學檢驗中應用普遍的檢測技術，具有操作方便、準確等特點，主要由光源、原子化系統、分光系統及檢測系統四個主要部分組成。從光源輻射出具有待測元素特征譜線的光，通過試樣蒸氣時被蒸氣中待測元素基態原子所吸收，由輻射特征譜線光被減弱的程度來測定試樣中待測元素的含量。

　　波長X熒光硫含量分析儀測定的是分子光譜，分子光譜屬于帶狀光譜，具有較大的半寬度，使用普通的棱鏡或光柵就可以達到要求，而且使用連續光源還可以進行光譜全掃描，可以用同一個光源對多種化合物進行測定。

　　今天咱們來聊一聊波長X熒光硫含量分析儀的校正曲線為何會發生彎曲現象：

　　光吸收的簡式A=KC，只適用于理想狀態均勻稀薄的蒸汽原子，隨著吸收層中原子濃度的增加，上述簡化關系就不應用了。

　　在高濃度下，分子不成比例地分解；相對于穩定的原子溫度，較高濃度下給出的自由原子比率較低。

　　1、由于有不被吸收的輻射、雜散光的存在，不可能全部光被吸收到同一程度來保持曲線線性。

　　2、由于光源的老化或使用高的燈電流引起的空心燈譜線擴寬和產生自吸。

　　3、由于單色器狹縫太寬，則傳送到檢測器去的譜線不可能只有一條，校正曲線表現出更大的彎曲。

　　4、樣品中元素的電離電位不同，在火焰中發生電離時，不同元素的基態原子數不同。濃度低時，電離度大，吸光度下降多;濃度增高，電離度逐漸減小，吸光度下降程度也逐漸減小，所以引起標準工作曲線向濃度軸彎曲(下部彎曲)。

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