??1. 工作原理??
冷凍聚焦離子束顯微鏡(??Cryo-FIB??)是一種結合 ??聚焦離子束(FIB)加工?? 和 ??冷凍電子顯微鏡(Cryo-EM)樣品制備?? 的技術,主要用于對 ??冷凍生物樣品?? 或 ??敏感材料?? 進行納米級精密切削和成像。其核心工作原理如下:
??(1)冷凍樣品制備??
- 樣品通過 ??快速冷凍(如液氮冷卻)?? 形成玻璃態冰(Vitreous Ice),避免冰晶損傷。
- 冷凍樣品轉移至 ??Cryo-FIB?? 系統,保持 ??低溫(約 -140°C 至 -180°C)??,防止水蒸發或結構破壞。
??(2)聚焦離子束(FIB)加工??
- ??離子源(Ga? 或 He?/Ne?)?? 發射高能離子束(典型能量 ??30 keV??)。
- 離子束聚焦至 ??納米級束斑(5–10 nm)??,轟擊樣品表面,通過 ??濺射效應?? 去除材料。
- ??精確控制離子束掃描??,實現 ??薄片制備(<200 nm)?? 或 ??表面刻蝕??,用于后續冷凍電鏡(Cryo-EM)或冷凍電子斷層掃描(Cryo-ET)觀察。
??(3)電子束成像(可選)??
- 部分 ??Cryo-FIB/SEM?? 系統集成 ??掃描電子顯微鏡(SEM)??,可在加工過程中實時觀察樣品形貌(低劑量成像)。
??2. 系統構成??
Cryo-FIB 系統主要由以下關鍵模塊組成:
??(1)冷凍樣品傳輸與保持系統??
- ??冷凍樣品臺(Cryo-stage)??:保持樣品在 ??-140°C 至 -180°C?? 低溫環境。
- ??防污染冷阱(Anti-contamination Cold Trap)??:減少水汽凝結,避免樣品污染。
- ??冷凍傳輸裝置??:將樣品從冷凍制備設備(如 plunge freezer)安全轉移至 FIB 腔室。
??(2)離子束系統??
- ??離子源??:常用 ??鎵離子(Ga?)??,系統可選 ??氦離子(He?)?? 或 ??氖離子(Ne?)??,提供更高分辨率加工。
- ??離子光學系統??:靜電透鏡和偏轉線圈控制離子束聚焦與掃描。
- ??束斑控制??:可實現 ??5–100 nm?? 束斑調節,適應不同加工需求。
??(3)電子束成像系統(可選)??
- ??掃描電子顯微鏡(SEM)模塊??:低電壓(1–5 keV)電子束成像,減少樣品損傷。
- ??二次電子(SE)或背散射電子(BSE)探測器??:用于加工過程的實時監控。
??(4)氣體注入系統(GIS)??
- ??沉積氣體(如 Pt、C)??:用于 ??保護層沉積?? 或 ??修復損傷區域??。
- ??刻蝕氣體(如 XeF?)??:增強特定材料的離子束刻蝕效率。
??(5)控制系統與軟件??
- ??自動化切片軟件??:預設加工路徑,實現 ??自動薄片制備??(如 AutoSlice & View)。
- ??低劑量成像模式??:減少電子束對敏感樣品的輻照損傷。
??3. 技術優勢與挑戰??
??(1)優勢??
- ??保持樣品天然狀態??:冷凍環境避免水蒸發和結構塌陷,適用于 ??生物大分子、細胞、軟材料??。
- ??高精度加工??:納米級定位切削,制備 ??Cryo-EM 所需超薄樣品(<200 nm)??。
- ??多模態聯用??:結合 ??Cryo-SEM、Cryo-ET??,實現從加工到高分辨成像的全流程分析。
??(2)挑戰??
- ??冰污染風險??:樣品轉移過程中可能形成非晶冰,影響成像質量。
- ??離子束損傷??:高能離子轟擊可能導致樣品非晶化或成分改變(需優化束流參數)。
- ??設備復雜度??:需嚴格維持低溫、高真空環境,操作與維護成本高。
??4. 典型應用??
- ??結構生物學??:制備 ??冷凍電鏡(Cryo-EM)?? 樣品,解析蛋白質復合體或病毒結構。
- ??材料科學??:加工 ??鋰金屬負極、水凝膠?? 等敏感材料,研究界面或缺陷結構。
- ??細胞生物學??:對冷凍細胞進行 ??原位截面制備??,用于冷凍電子斷層掃描(Cryo-ET)。
??5. 未來發展方向??
- ??更低損傷離子源??:如 ??氦離子(He?)?? 替代 Ga?,減少樣品損傷。
- ??AI 輔助自動化??:智能識別感興趣區域(ROI),優化加工路徑。
- ??多束聯用平臺??:集成 ??離子束、電子束、X射線??,實現多維數據采集。
??6. 總結??
冷凍聚焦離子束顯微鏡(Cryo-FIB)通過 ??低溫離子束加工??,解決了傳統 FIB 對生物和敏感材料的損傷問題,成為 ??冷凍電鏡樣品制備?? 和 ??納米材料研究?? 的關鍵工具。其技術核心在于 ??低溫環境控制、高精度離子束切削?? 和 ??多模態聯用能力??,未來將進一步向 ??低損傷、智能化、高通量?? 方向發展。
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