手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
泰勒白光干涉測量系統集高精度、高穩定性和智能化于一體，專為工業與科研領域的精密表面形貌測量而設計。系統采用先進的干涉技術，配備閉環無壓電Z軸掃描儀，提供2.2 mm垂直測量范圍，并通過標配的AutoStitch功能實現高達100 mm的Z向拼接，適用于大臺階或復雜結構的高分辨率三維重建。1024×1024像素陣列支持大視場下保持空間分辨率，確保細節清晰呈現。
系統搭載新型Claritas 20光調節技術，顯著提升角度靈敏度和數據質量，實現<0.2 ?的RMS可重復性與<0.1%的步高重復性，全量程內分辨率達0.1 ?。有限元優化的機械結構保障了出色的R&R性能，無壓電設計更降低了長期使用中的維護成本。自動表面檢測功能有效防止物鏡碰撞，延長設備壽命。
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
采購中心