你是否曾在使用光譜儀檢測微弱熒光信號時，遇到信噪比低、數據不穩定的問題？這很可能是因為探測器的“耗盡層”不夠深！今天，我們將揭開這一直接影響光譜儀性能的技術——深耗盡層技術的神秘面紗，并探討如何通過優化耗盡層提升探測效率。

什么是耗盡層？
光譜儀的核心部件是光電探測器（如CCD），其作用是將光信號轉化為電信號。這一過程的關鍵在于探測器內部的半導體結構。當光照射到半導體時，光子會被吸收并產生電子-空穴對。這些載流子需要被有效收集才能形成信號，而深耗盡正是完成這一任務的“關鍵區域”。

耗盡層是半導體探測器中的一個特殊區域。當施加反向偏壓時，該區域的載流子（電子和空穴）被“耗盡”，形成一個強電場區。入射光子在耗盡層內被吸收后，會產生電子-空穴對，并在電場作用下被快速收集，形成電信號。

為什么需要“深耗盡層”？
在高速或弱光探測（如天文光譜儀）中，探測器需要更深的耗盡層來擴大信號收集范圍。通過施加快速變化的電壓，可以臨時形成遠超正常厚度的深耗盡層，就像一張更大的“網”，能夠捕捉更多的光生電子。不過，這種狀態是暫時的，最終會恢復平衡。

耗盡層越深，探測器的電荷收集效率越高，尤其是在長波長（如近紅外）區域。這是因為長波長光子的穿透深度較大，只有足夠厚的耗盡層才能有效吸收光子并生成信號。

如何優化耗盡層？
為了提升探測器的性能，尤其是對微弱信號或長波長光的探測能力，可以通過以下方式優化耗盡層：

1.       增加硅層厚度：使耗盡層向更深區域擴展，提高光子吸收概率。

2.       優化摻雜濃度：精確控制半導體材料的摻雜水平，確保耗盡層在合理偏壓下達到理想深度。

3.       背照式結構（Back-Illuminated）：減少光路遮擋，讓光子直接進入耗盡層，提高量子效率。

鑒知技術的深耗盡層解決方案
鑒知技術的ST90S/ST100S系列透射成像光譜儀是專門針對微弱信號檢測設計的高性能光譜儀。其特點包括：

·       零像差設計：分辨率可達理論極限。

·       寬波長范圍：覆蓋可見光至近紅外（534-1800nm）。

·       高靈敏度探測器：可選配PI、Andor等多款科研級相機，結合深度制冷技術，大幅提高測量可靠性。

·       高收集效率：數值孔徑為0.22。

具體型號亮點：

·       ST90S光譜儀：搭載背照深耗盡CCD，優化紫外-可見光探測，量子效率高達80%@600nm，適用于高精度光譜分析。

·       ST100S光譜儀：采用背照深耗盡（近紅外優化）CCD，增強700-1100nm波段的信號采集能力，量子效率82%@900nm，是拉曼、熒光等應用的理想選擇。

此外，SRxxS系列支持SMA905光纖輸入或自由空間光輸入，適用于可見光、近紅外高分辨率光譜檢測，如等離子體光譜檢測和共聚焦拉曼分析。

耗盡層雖小，卻是探測器高效工作的核心。鑒知技術通過提升探測器的深耗盡能力，讓光譜探測更精準、更可靠！

關注鑒知技術，探索光譜的無限可能！

北京鑒知技術有限公司是一家以光譜檢測技術為核心的專業公司，目前已有自主研發的微型光譜儀、近紅外光譜儀、透射光譜儀、OCT光譜儀等產品，廣泛應用于科研、生物醫學、環境監測等領域。