隨著電子封裝技術向高密度、微型化方向發展,陶瓷球柵陣列封裝(CBGA)因其優異的電熱性 效問題一直是制約其可靠性的關鍵因素。
本文科準測控小編將介紹如何基于Alpha W260推拉力測試機,結合有限元仿真技術,建立了CBGA焊點失效分析的完整方法體系。通過系統的力學性能測試與多物理場耦合仿真,揭示了溫度循環載荷下CBGA焊點的失效演化規律,為高可靠性電子封裝設計與工藝優化提供了理論依據和技術支持。
一、CBGA焊點失效原理
1、 失效機理
CBGA焊點主要失效模式包括:
熱機械疲勞失效:由于陶瓷基板與PCB板熱膨脹系數(CTE)不匹配,在溫度循環載荷下產生周期性剪切應變,導致焊點累積損傷
脆性斷裂失效:SnAgCu無鉛焊料在低溫高應變率條件下易發生脆性斷裂
界面IMC層失效:焊點與UBM層間形成的金屬間化合物(IMC)過厚導致脆性增加
2、失效演化過程
初始階段:焊點內部產生微裂紋
擴展階段:裂紋沿高應變能密度區擴展
貫通階段:裂紋貫穿焊點截面
wan全失效:電氣連接中斷
二、測試標準與方法
1、參考標準
IPC-9701:表面貼裝焊點可靠性測試方法
JESD22-B104:機械沖擊測試標準
MIL-STD-883:微電子器件試驗方法標準
2、關鍵參數
三、測試儀器
1、Alpha W260推拉力測試機
Alpha W260推拉力測試機是專為微電子封裝可靠性測試設計的高精度設備,特別適合CBGA焊點失效分析的測試需求:
1、設備特點
高精度:全量程采用自主研發的高精度數據采集系統,確保測試數據的準確性。
功能性:支持多種測試模式,如晶片推力測試、金球推力測試、金線拉力測試以及剪切力測試等。
操作便捷:配備專用軟件,操作簡單,支持多種數據輸出格式,能夠wan美匹配工廠的SPC網絡系統。
2、多功能測試能力
支持拉力/剪切/推力測試
模塊化設計靈活配置
3、智能化操作
自動數據采集
SPC統計分析
一鍵報告生成
4、安全可靠設計
獨立安全限位
自動模組識別
防誤撞保護
5、夾具系統
多種規格的剪切工具(適用于不同尺寸焊球)
鉤型拉力夾具
定制化夾具解決方案
四、測試流程
步驟一、試驗分析流程1. 樣品接收與初步檢查
記錄樣品信息:封裝類型、材料、工藝參數、失效現象(如開裂、虛焊、腐蝕等)。
外觀檢查:使用光學顯微鏡或體視顯微鏡觀察焊點表面狀態(裂紋、空洞、變色等)。
步驟二、非破壞性分析(NDT)
X射線檢測(2D/3D X-ray):
檢查焊點內部結構(空洞、裂紋、界面分離等)。
定位缺陷位置(如BGA邊緣或中心區域)。
聲學掃描顯微鏡(C-SAM)(可選):
檢測分層、內部裂紋(適用于塑封或多層結構)。
步驟三、電性能測試
導通性測試:使用萬用表或飛針測試儀確認開路/短路。
阻抗分析(可選):通過TDR(時域反射儀)檢測信號完整性異常。
步驟四、推拉力測試(關鍵步驟)
1、設備準備
選用合適的推拉力測試機(如Dage 4000、Nordson DAGE等)。
選擇測試模式(剪切力測試/拉力測試)。
2、測試參數設置
剪切測試(適用于BGA焊點):
測試頭選擇:平頭或楔形頭(根據焊球尺寸)。
測試速度:通常 100-500 µm/s。
剪切高度:控制在焊球高度的 20-50%(避免PCB損傷)。
拉力測試(適用于特定失效分析):
使用專用夾具(如膠粘或焊接固定)。
垂直拉力,速度 50-200 µm/s。
3、執行測試
對多個焊點進行測試,記錄最大斷裂力(Fmax)和斷裂模式(焊球斷裂、IMC層斷裂、PCB焊盤脫落等)。
4、數據分析
對比標準值,判斷焊點強度是否合格。
結合斷裂位置分析失效模式(如脆性斷裂、韌性斷裂)。
步驟五、破壞性分析(驗證推拉力測試結果)
1、切片制備(Cross-Section):
對已測試的焊點進行研磨拋光,觀察斷裂面微觀結構。
使用SEM/EDS分析斷裂面(IMC層、裂紋擴展路徑、元素成分)。
2、染色滲透試驗(Dye & Pry)(可選):
注入染色劑(如紅墨水),分離后觀察裂紋分布,驗證推拉力測試結果。
以上就是小編介紹的有關于CBGA焊點失效分析的相關內容了,希望可以給大家帶來幫助。如果您還對CBGA焊點失效分析方法、測試報告和測試項目,推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業指導書,原理、怎么校準和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣,歡迎關注我們,也可以給我們私信和留言。【科準測控】小編將持續為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領域應用中可能遇到的問題及解決方案。
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